型號/規(guī)格：TPYLR-5003072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$

產(chǎn)品描述：TPYLR-500型橢偏儀冷熱臺　橢偏儀作為一種非破壞性、高精度的光學(xué)表征設(shè)備，廣泛應(yīng)用于薄膜厚度、折射率、吸收系數(shù)等材料參數(shù)的測量。然而，橢偏儀的測量精度...

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型號/規(guī)格：FILM102#$%^103#$貿(mào)易商%^139#$全新%^104#$

產(chǎn)品描述：Film Sense 多波長橢偏儀通過簡單的 1 秒測量，可以以極高的精度和精度測定大多數(shù)透明薄膜的薄膜厚度和折射率并對許多樣品進(jìn)行光學(xué)常數(shù) n&k 等薄膜性質(zhì)的測量...

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型號/規(guī)格：HORIBA 橢圓偏振光譜儀

產(chǎn)品描述：HORIBA橢偏儀 橢圓偏振光譜儀 HORIBA 橢圓偏振光譜儀Auto SE & Smart SE 是一種新型薄膜測量工具。需簡單的幾個(gè)按鈕，幾秒鐘內(nèi)即可自動完成樣品測量和分析，...

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型號/規(guī)格：HORIBA 橢圓偏振光譜儀

產(chǎn)品描述：HORIBA橢偏儀 橢圓偏振光譜儀 HORIBA 橢圓偏振光譜儀Auto SE & Smart SE 是一種新型薄膜測量工具。需簡單的幾個(gè)按鈕，幾秒鐘內(nèi)即可自動完成樣品測量和分析，...

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型號/規(guī)格：SpecEl-2000-VIS

產(chǎn)品描述：SpecEl-2000-VIS橢偏儀通過測量基底反射的偏振光，進(jìn)而測量薄膜厚度及材料不同波長處的折射率。SpecEl通過PC控制來實(shí)現(xiàn)折射率，吸光率及膜厚的測量。

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型號/規(guī)格：SpecEl-2000-VIS

產(chǎn)品描述：SpecEl-2000-VIS橢偏儀通過測量基底反射的偏振光，進(jìn)而測量薄膜厚度及材料不同波長處的折射率。SpecEl通過PC控制來實(shí)現(xiàn)折射率，吸光率及膜厚的測量。

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型號/規(guī)格：PH-LE28#$%^39#$%^127#$%^40#$

產(chǎn)品描述：多角度激光橢偏儀

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型號/規(guī)格：PH-LE28#$%^39#$%^127#$%^40#$

產(chǎn)品描述：多角度激光橢偏儀

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型號/規(guī)格：PH-SE10#$%^11#$%^134#$%^12#$

產(chǎn)品描述：光譜橢偏儀

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型號/規(guī)格：PH-SE10#$%^11#$%^134#$%^12#$

產(chǎn)品描述：光譜橢偏儀

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型號/規(guī)格：HG-EM

產(chǎn)品描述：光伏/科研通用兩種應(yīng)用選擇 　　HG-EM激光橢偏儀是針對光伏太陽能電池高端研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域推出的型多入射角激光橢偏儀?？蓮V泛應(yīng)用于晶體硅太陽電池、薄膜...

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型號/規(guī)格：HG-EM

產(chǎn)品描述：光伏/科研通用兩種應(yīng)用選擇 　　HG-EM激光橢偏儀是針對光伏太陽能電池高端研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域推出的型多入射角激光橢偏儀?？蓮V泛應(yīng)用于晶體硅太陽電池、薄膜...

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型號/規(guī)格：FE-5000

產(chǎn)品描述：400波長以上的多頻分光法，量測出橢圓偏光光譜。 自由變換反射量測角度，可得到更詳細(xì)的薄膜解析數(shù)據(jù)。 反射角度自動可變的測量方式，對薄膜測量有更高的分析...

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型號/規(guī)格：FE-5000

產(chǎn)品描述：400波長以上的多頻分光法，量測出橢圓偏光光譜。 自由變換反射量測角度，可得到更詳細(xì)的薄膜解析數(shù)據(jù)。 反射角度自動可變的測量方式，對薄膜測量有更高的分析...

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型號/規(guī)格：ACEGEM

產(chǎn)品描述：產(chǎn)品品牌：ACEGEM 產(chǎn)品型號：ACEGEM ...

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型號/規(guī)格：ACEGEM

產(chǎn)品描述：產(chǎn)品品牌：ACEGEM 產(chǎn)品型號：ACEGEM ...

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型號/規(guī)格：Sopra GES5E102#$%^103#$制造商%^139#$全新%^104#$法國

產(chǎn)品描述：儀器簡介： 應(yīng)用： ◆ 薄膜厚度、n值及k值的測量，可應(yīng)用于任何薄膜生長或者鍍膜工藝的監(jiān)控。 技術(shù)參數(shù)： Sopra公司是世界上的橢偏儀設(shè)備供應(yīng)...

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型號/規(guī)格：Sopra GES5E102#$%^103#$制造商%^139#$全新%^104#$法國

產(chǎn)品描述：儀器簡介： 應(yīng)用： ◆ 薄膜厚度、n值及k值的測量，可應(yīng)用于任何薄膜生長或者鍍膜工藝的監(jiān)控。 技術(shù)參數(shù)： Sopra公司是世界上的橢偏儀設(shè)備供應(yīng)...

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型號/規(guī)格：HG-ES18#$衡工%^19#$制造商%^141#$全新%^20#$北京

產(chǎn)品描述：HG-ES光譜橢偏儀是針對光伏太陽能電池研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域推出的高性能光譜橢偏儀。 HG-ES光譜橢偏儀用于測量和分析光伏領(lǐng)域中多層納米薄膜的層構(gòu)參數(shù)（如，...

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型號/規(guī)格：HG-ES18#$衡工%^19#$制造商%^141#$全新%^20#$北京

產(chǎn)品描述：HG-ES光譜橢偏儀是針對光伏太陽能電池研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域推出的高性能光譜橢偏儀。 HG-ES光譜橢偏儀用于測量和分析光伏領(lǐng)域中多層納米薄膜的層構(gòu)參數(shù)（如，...

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