數(shù)字IC多值邏輯測(cè)試儀，是我們通過(guò)總結(jié)國(guó)外同類產(chǎn)品的優(yōu)點(diǎn)，本著實(shí)用、方便、測(cè)試精準(zhǔn)的宗旨，面向國(guó)內(nèi)外市場(chǎng)推出的數(shù)字IC參數(shù)測(cè)試儀（并且在不斷地完善之中）。該儀器適合，整機(jī)生產(chǎn)廠商及其它IC應(yīng)用廠家的器件級(jí)進(jìn)廠測(cè)試。目前，對(duì)中小規(guī)模數(shù)字IC進(jìn)行簡(jiǎn)單的邏輯功能測(cè)試，已不能滿足IC用戶的測(cè)試需求。I3100　數(shù)字IC多值邏輯測(cè)試儀，利用的多值參數(shù)比較法，可以對(duì)數(shù)字IC進(jìn)行功能測(cè)試并同時(shí)完成各項(xiàng)直流參數(shù)測(cè)試。I3100可以滿足IC用戶的參數(shù)測(cè)試要求。I3100是一種性能實(shí)用、操作簡(jiǎn)單、測(cè)試可信度高、成本低廉的測(cè)試儀器。
　　
　　主要特點(diǎn)：
　　1.測(cè)試電源拉偏狀態(tài)下，輸出電平加載測(cè)試。
　　2.對(duì)輸出電流、輸出電壓直流參數(shù)進(jìn)行測(cè)試的同時(shí)，完成真值表功能測(cè)試。
　　3.真值表功能測(cè)試的同時(shí)，完成“三態(tài)”（高阻狀態(tài)）漏電流測(cè)試。
　　4.對(duì)IC輸入電流、功耗電流測(cè)試。
　　5.輸入漏電流及交叉漏電流測(cè)試。
　　6.測(cè)試過(guò)程無(wú)須人工干預(yù)。
　　7.用戶可以自選測(cè)試模式，使用方便、操作簡(jiǎn)潔。
　　8.可自動(dòng)識(shí)別74系列中的CMOS器件。
　　9.可以查找未知IC的型號(hào)。
　　目前I3100的作用單位已通信、電子儀器、電力電子、辦公自動(dòng)化設(shè)備、計(jì)算機(jī)整機(jī)、交通電子、消科學(xué)器材等各個(gè)領(lǐng)域，并獲用戶一致好。