- 品牌/商標(biāo)：三泉中石
- 企業(yè)類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：濟(jì)南
高薄膜測(cè)厚儀,薄膜厚度測(cè)試儀適用于2mm范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測(cè)量。
高薄膜測(cè)厚儀,薄膜厚度測(cè)試儀技術(shù)特征
微電腦控制、液晶顯示
高接觸式測(cè)量
測(cè)量頭自動(dòng)升降
單次、連續(xù)雙重測(cè)量模式
數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)
打印值、小值、平均值及每次測(cè)量結(jié)果
可多保存100組測(cè)試結(jié)果，隨時(shí)查看并打印
微型打印機(jī)，實(shí)時(shí)輸出結(jié)果
歷史數(shù)據(jù)查詢
標(biāo)準(zhǔn)量塊標(biāo)定
技高薄膜測(cè)厚儀,薄膜厚度測(cè)試儀術(shù)參數(shù)
1．測(cè)量范圍：0～2mm
2．分 辨 率：0.1μm
3. 測(cè)試速度:10次/min
4．測(cè)量壓力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（紙張）
5．接觸面積：50mm2（薄膜），200mm2（紙張）
注：薄膜、紙張任選一種
6．電 源：AC 220V 50Hz
7．外形尺寸：460mm×350mm×365mm
