平行平晶的詳細信息
*平行平晶具有高的平面性和平行性。
*平行平晶用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。平行平晶共分四個系列，每個系列各分六組，每組四塊。
產品名稱平行平晶
功能：平行平晶用于干涉法測量千分尺、卡規(guī)和千分表等測量面平面度、平面平行度。
產品規(guī)格：
每組平行平晶共四塊，分四個尺寸系列組
測量范圍：組Ⅰ系列：0～25mm
組Ⅱ系列：25～50mm
組Ⅲ系列：50～75mm
組Ⅳ系列：75～100mm
測量面上平面度偏差 <0.1μm
平面度局部偏差 >0.03μm
測量面平行度誤差：組Ⅰ系列允差值：0.06μm
組Ⅱ，Ⅲ系列允差值：0.08μm
組Ⅳ系列允差值：0.1μm
平晶直徑 φ30mm，φ40mm，φ40mm，φ50mm
注：測量工作應在室溫20±3℃條件下，保持數(shù)小時后進行
*平行平晶是以光波干涉原理為基礎，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的誤差程度。
*平行平晶具有高的平面性和平行性。
*平行平晶用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。平行平晶共分四個系列，每個系列各分六組，每組四塊。
產品名稱平行平晶
功能：平行平晶用于干涉法測量千分尺、卡規(guī)和千分表等測量面平面度、平面平行度。
產品規(guī)格：
每組平行平晶共四塊，分四個尺寸系列組
測量范圍：組Ⅰ系列：0～25mm
組Ⅱ系列：25～50mm
組Ⅲ系列：50～75mm
組Ⅳ系列：75～100mm
測量面上平面度偏差 <0.1μm
平面度局部偏差 >0.03μm
測量面平行度誤差：組Ⅰ系列允差值：0.06μm
組Ⅱ，Ⅲ系列允差值：0.08μm
組Ⅳ系列允差值：0.1μm
平晶直徑 φ30mm，φ40mm，φ40mm，φ50mm
注：測量工作應在室溫20±3℃條件下，保持數(shù)小時后進行
