- 品牌/商標(biāo)：廣州標(biāo)旗電子科技有限公司
- 企業(yè)類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：廣州
Sphere3000是一套全波長(zhǎng)顯微球面光學(xué)元件光譜分析儀，能快速準(zhǔn)確地測(cè)量各類球面/非球面器件的相對(duì)/反射率。適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測(cè)量。還可進(jìn)行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測(cè)量。
Sphere3000球面光學(xué)元件反射率顯微檢測(cè)儀-特點(diǎn)：
顯微測(cè)定微小領(lǐng)域的反射率 物鏡對(duì)焦于被測(cè)物微小區(qū)域（φ60μm）
CIE顏色測(cè)定 X Y色度圖，x, y, L, a, b, 飽和度，主波長(zhǎng)等
檢測(cè)速度快 高性能探測(cè)器，能在幾秒內(nèi)實(shí)現(xiàn)重現(xiàn)性高的測(cè)定
消除背面反射光 無(wú)需進(jìn)行背面防反射處理即可快速準(zhǔn)確地測(cè)定表面反射率。
Sphere3000球面光學(xué)元件反射率顯微檢測(cè)儀-技術(shù)參數(shù)
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型號(hào) |
Sphere-3000（I型） |
Sphere-3000（II型） |
Sphere-3000（III型） |
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檢測(cè)范圍 |
380~800nm |
380~1000nm |
380~1100nm |
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波長(zhǎng)分辨率 |
1nm |
1nm |
1nm |
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相對(duì)檢測(cè)誤差 |
﹤1% |
﹤1% |
﹤0.5% |
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測(cè)定方法 |
與標(biāo)準(zhǔn)物比較測(cè)定 |
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被測(cè)物再現(xiàn)性 |
±0.1%以下 |
±0.1%以下 |
±0.1%以下 |
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單次測(cè)量時(shí)間 |
﹤1s |
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0.3nm |
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被測(cè)物N.A. |
0.12(使用10×對(duì)物鏡時(shí)) |
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被測(cè)物尺寸 |
直徑>1mm |
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被測(cè)物測(cè)定范圍 |
約φ60μm(使用10×對(duì)物鏡時(shí)) 約φ30μm(使用20×對(duì)物鏡時(shí)) |
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設(shè)備重量 |
約15kg（光源內(nèi)置） |
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設(shè)備尺寸 |
300(W)×550(D)×570(H)mm |
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使用環(huán)境 |
水平且無(wú)振動(dòng)的場(chǎng)所 |
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操作系統(tǒng) |
Windows XP, Windows Vista，Win7 |
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軟件 |
分光反射率、物體顏色、單層膜厚（有干涉條紋）和鍍膜折射率（有干涉條紋）測(cè)定 |
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